科电检测仪器有限公司主要生产:涂层测厚仪,MC－2000系列涂(镀)层测厚仪,HCH－2000系列超声波测厚仪,电火花检漏仪,电火花检测仪等仪器

     在重复的放射性测量中，即使保持完全相同的实验条件（例如放射源的半衰期足够长，在实验时间内可以认为其活度基本上没有变化；源与计数管的相对位置始终保持不变；每次测量时间不变；测量仪器足够精确，不会产生其它的附加误差等等），每次的测量结果也并不完全相同，而是围绕着其平均值上下涨落，有时甚至有很大的差别，与使用的测量仪器及技术无关；这种现象就叫做“放射性计数的统计性”。放射性计数的这种统计性，反映了放射性原子核衰变过程是一种随机过程。